1.三维概括扫描仪发射线激光，丈量物体被照耀后标明发生漫反射，反射光经过 CMOS 芯片进行接纳，经过核算反射光在芯片的方位，可以取得被测物体的高度段差和形状信息。

  2.依据被测物体的巨细和精度要求，可针对 LS 系列灵敏选型，搭设简洁，易于集成。

  3.一体式3D激光概括仪LS-4020高精度安稳丈量，确保客户出产质量管控。

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