1.三维概括扫描仪发射线激光,丈量物体被照耀后标明发生漫反射,反射光经过 CMOS 芯片进行接纳,经过核算反射光在芯片的方位,可以取得被测物体的高度段差和形状信息。
2.依据被测物体的巨细和精度要求,可针对 LS 系列灵敏选型,搭设简洁,易于集成。
3.一体式3D激光概括仪LS-4020高精度安稳丈量,确保客户出产质量管控。
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