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惠然微电子全自主研发半导体关键尺寸量测设备CD-SEM出机
来源:万博appmanbetx官网登录    更新时间: 2024-10-12 00:54:46 访问次数: 1

  、刻蚀机、薄膜沉积和量检测设备被誉为四大核心设备。其中,量检测设备在保障质量、提高生产效率方面扮演着举足轻重的角色。然而,目前我国的DUV、EUV光刻机和电子束量检测设备在自主可控度上仍面临“高风险”和“难以覆盖”的挑战。

  惠然微电子正是针对这一行业痛点,积极引进国内外高精尖核心技术人才,聚力攻坚克难。公司坚持自主创新,投入大量研发资源,经过不懈的努力,终于成功研制出首台全自主研发的CD-SEM设备。

  这一成果不仅彰显了惠然微电子在半导体量检验测试领域的实力,也为中国半导体产业的发展注入了新的动力。通过实现半导体关键尺寸量测设备的国产化,惠然微电子为我国半导体产业的自主可控提供了有力支持,降低了对进口设备的依赖,提高了整个产业链的稳定性和安全性。

  展望未来,惠然微电子将不断的提高产品性能和技术水平,为我国半导体产业的发展贡献更多力量。同时,公司也期待与更多业界同仁携手合作,一同推动中国半导体产业迈向新的高度。

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